(1)用引導光纖消除盲區(qū)

　　產(chǎn)生盲區(qū)的主要原因是反射事件，其中OTDR前面板活動連接器產(chǎn)生的反射對OTDR測量的影響最大。為了更好地對光纖始端進行測量，通常用接入引導光纖的方法來消除盲區(qū)。

　　使用引導光纖后，可以將前面板活動連接器產(chǎn)生的盲區(qū)控制在引導光纖內(nèi)。這樣就可以測出被測光纖的最前端。只有被測光纖與引導光纖的連接處不再產(chǎn)生反射，引導光纖的接入才有意義，通常采用熔接的方法來實現(xiàn)，如圖1所示。如果將引導光纖用活動連接器連至被測光纖，那么活動連接器會產(chǎn)生另一盲區(qū)。同時，還要求引導光纖的長度必須大于OTDR前面板的衰減盲區(qū)。

圖1   用引導光纖消除盲區(qū)示意圖

　　有時為了檢查第一個活動連接器是否存在問題，通常將引導光纖與被測光纖進行活動連接，如圖2所示。

圖2  用引導光纖測量第一個活動連接器示意圖

　　(2)光屏蔽方式消除盲區(qū)

　　為了對小功率的背向散射信號進行有效測量，要求OTDR的接收器對背向散射電平具有非常高的靈敏度。當反射峰過大時，就會使接收器進入深度飽和狀態(tài)。盲區(qū)的大小取決于接收器由深度飽和狀態(tài)恢復到線性背向散射電平所需的過渡時間。只要將接收器在反射峰期間關(guān)閉，接收器就不會進入飽和狀態(tài)，反射峰過后再打開接收器，但這還存在一個接收器由截止到放大的過渡時間，不過這一時間較短。

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